颗粒粒度分析仪
凭借我们广受赞誉的颗粒粒度分析仪系列,您可以有效提高生产率并更快地开发出更优质的产品。
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我们提供多种用于元素和厚膜分析的 X 射线荧光光谱仪和相关产品。
我们的 XRD 解决方案被大量研究机构,工艺流程控制实验室和大学所采用。
近红外光谱法(NIR)是一种高度灵活的分析形式,可运用于广泛的研究和工业过程应用
便携式及手持式光谱仪可以定量或定性测定几乎任何元素,而无需将样品带到实验室
可轻松实现准确 XRF 分析所需的样品制备
在工业中降低实验室分析的成本,同时优化分析过程的质量和可靠性。
广泛应用的纳米颗粒、胶体、生物分子粒度和颗粒电荷测量系统
颗粒粒度智能测量方法
快速、准确的原位和在线元素分析
可满足您分析需求的多用途解决方案
一种用于研究所有类型材料的无损技术
动态光散射可用于蛋白质、纳米颗粒、聚合物和胶状分散体的粒度表征
可视化并测量颗粒的粒度和浓度
X射线荧光光谱学和 XRF 应用
分享知识有助于推动科学发展。我们提供一系列符合您需求的网络研讨会、讲座和培训课程,助您在和专家沟通交流的过程中,获得解决重大挑战的新思路,不断提高技术能力。
详细了解我们的科学仪器如何帮助用户更好地理解和塑造从蛋白质、金属和聚合物到我们周围的土壤和空气的一切。从热门话题到客户案例、行业洞察和技术培训 - 我们的博客可帮助您了解最新情况。
This year, our Future Days event for semiconductors focused on silicon carbide (SiC), a key material for the semiconductors of the future. It was a great opportunity for viewers to catch up with the most recent developments in SiC growth, including the analytical instruments, techniques, and even simulation software solutions that can help optimize the […]
Every competitive advantage is crucial in the cement industry. In particular, there’s recently been a rising interest in the role that imperfections and amorphous regions play in determining the functional properties of crystalline materials like cement. No material is perfectly crystalline, and a deeper understanding of a cement’s atomic structure can be the key to […]
I’ve written a decent amount about OMNISEC and GPC/SEC characterization over the years, describing what makes GPC/SEC data trustworthy, how multi-detection GPC/SEC works, what the post-column filter does, and how compositional and branching analyses work, among other topics. In this post, I want to take a step back and discuss a topic that frequent OMNISEC […]