矿业解决方案
提高从勘探到矿物加工的回收率和工艺效率
We’re BIG on small. 我们一系列屡获殊荣的仪器可帮助您更好地理解一切，让不可能成为可能。
近红外光谱法(NIR)是一种高度灵活的分析形式，可运用于广泛的研究和工业过程应用
便携式及手持式光谱仪可以定量或定性测定几乎任何元素，而无需将样品带到实验室
可轻松实现准确 XRF 分析所需的样品制备
在工业中降低实验室分析的成本，同时优化分析过程的质量和可靠性。
广泛应用的纳米颗粒、胶体、生物分子粒度和颗粒电荷测量系统
颗粒粒度智能测量方法
快速、准确的原位和在线元素分析
可满足您分析需求的多用途解决方案
一种用于研究所有类型材料的无损技术
动态光散射可用于蛋白质、纳米颗粒、聚合物和胶状分散体的粒度表征
可视化并测量颗粒的粒度和浓度
X射线荧光光谱学和 XRF 应用
分享知识有助于推动科学发展。我们提供一系列符合您需求的网络研讨会、讲座和培训课程，助您在和专家沟通交流的过程中，获得解决重大挑战的新思路，不断提高技术能力。
我们的愿景是让世界更清洁、更健康、更高效。详细了解我们的科学仪器如何帮助用户更好地理解和塑造从蛋白质、金属和聚合物到我们周围的土壤和空气的一切。从热门话题到客户案例、行业洞察和技术培训 - 我们的博客可帮助您了解最新情况。
The most comprehensive software for powder diffraction analysis From the start, your success in materials research and production depends on high-quality results from samples at various stages of the process. Ensuring your measurement data are accurate and free from anomalies is crucial. Beyond that, you need intelligent and thorough analysis of this data to achieve […]
Introduction Malvern Panalytical’s Wafer XRD 200 redefines efficiency in the wafer’s crystal orientation. In our latest video, Dirk Kok, Application Specialist, explains how this advanced diffractometer combines speed, accuracy, and versatility to meet the demands of high-volume semiconductor manufacturers. What Does the Wafer XRD 200 Do? The Wafer XRD 200 is a high-throughput crystal orientation […]
Ask an Expert webinars are always highlights of our year – giving us the chance to host leading and up-and-coming researchers to learn more about their research and the analytical techniques they use. Read on for a quick recap of this year’s Ask an Expert webinars, featuring experts at the cutting edge of semiconductors, advanced […]
