XRD2DScan

特点

2D 衍射和散射数据的分析

2D 衍射和散射数据包含大量信息。XRD2DScan 提供了一个全面、易用的工具箱，用于提取和分析这些信息。

除了检测晶相（矿物）和非晶相（聚合物）外，您还可以研究它们的微结构特征（粒子大小、择优取向、结晶度、有序度等），可以计算纹理样品的极图，并通过使用一组 2D 谱图映射峰强度、2Theta 位置和峰宽度来分析样品的不均匀性。映射功能也是一个非常有用的工具，便于呈现和查看孔板数据集。

2D 数据处理和修正

除 2D 数据分析工具外，XRD2DScan 还提供多种有用的数据处理和校正选项，包括平场校正、背景校正、掩蔽直射光束或强反射（如来自基片的反射）。您还可以旋转和裁剪 2D 图像，通过应用数据分箱、平滑处理等技术提高 2D 图像的质量。您可以合并多个文件，以提高信噪比，或获得多个文件集的总和表示。生成的 2D 图像可导出为 XRDML、ASC、PSF 或 BMP 文件。

通过 2D 数据生成 1D 扫描

XRD2DScan 可显示各种 2D 数据类型（2D XRD、极图、地图，包括倒易空间图等），并可读取各种文件格式（XRDML、PSF、ASC、TIF 等）。您还可以使用第三方衍射仪测量的 2D 文件。XRD2DScan 还可以提取各种类型的 1D 扫描：2theta 扫描（赤道），gamma 扫描（轴向），单线扫描（任意方向），Psi 扫描（在给定方位角旋转角度下，极图强度与样品倾斜角度的关系），Phi 扫描（在给定样品倾斜角度下，极图强度与方位角旋转角度的关系）。对于一组 2D 文件，还可以绘制 Z 扫描图（整体区段强度与文件编号的关系）。

1D 扫描可以从整个 2D 图像中提取，也可以从图像的一部分（区段）中提取。XRD2DScan 支持矩形和角度 2D 区段的定义。随后，可以导出从选定区段中记录的强度派生而来的 2theta 扫描。对于包含强纹理或大粒度的样品，此功能非常有用。

用于 1D 扫描处理的工具箱包括背景校正、峰值查找和峰值拟合。如需使用其他程序（如 HighScore、HighScore Plus 和 EasySAXS）进行进一步分析，可将 1D 扫描结果导出为 XRDML、ASC、DAT 或 2Dint 文件。

其他有用工具

XRD2DScan 还提供多种便捷工具，如样品-探测器距离校准、确定图案中心的多种选项、正确整合使用 X射线线焦斑测量的 2D 数据、指定所需仪器设置的选项、模拟极图覆盖范围以简化纹理实验设计的选项。

技术指标

当前版本	8.0