Crystal Orientation 系列晶向定位产品

晶体是原子的重复排列模式，这意味着我们从进入该晶体的电子/光子的角度所看到的景象取决于我们观察晶体的角度。视角可以是贯穿整个晶体的通道，也可以只是材料的顶部三层，因此材料特性会因角度不同而大相径庭。要控制好材料特性，就必须控制好晶体取向。

它是离子注入、光刻、外延的重要工艺，也是制造激光或光学组件的重要工艺。

晶体取向系列基于方位扫描，这是一种智能几何测量技术，用于确定晶体取向。这意味着，我们不仅能在 10 秒内测得主轴的倾斜度，还能测得所有面内方向。此仪器几乎可以测量任何形状的单晶体，如晶圆、晶棒、胚晶和晶锭等。

专为工业应用而设计，如供单晶或晶圆制造商、研究用途使用，也可用于晶圆和其他设备的质量控制， 

我们的高精度晶体取向系统可提供简单快速的晶体取向测量，确保为下一步加工步骤提供所需的特性。