概览
- 无损在线过程控制 – 无需采样
- 一系列扫描模式，可持续适应贴片和多通道涂层工艺
- 通过标准通信协议，可轻松集成到生产过程中
- 能够测量所有有价值的重要元素，包括铂和铈
- 能够以出色的精度测量薄层
- 适应一系列卷筒宽度
- 独特的专利机械臂，可通过将测量头悬停在生产线上的各个方向来提供最佳距离控制
面临燃料电池生产的挑战
铂催化剂占燃料电池总成本的 20% 以上，因此通过均匀分散和一致的分层优化催化剂涂层至关重要。快速、准确的工艺监测是理想的解决方案！Epsilon Xline 使高效的操作控制变得简单，帮助您：
- 最大限度地减少不合格生产
- 节省贵重的铂金，避免浪费
- 生产具有成本竞争力的最终产品
特点
- 在线全面自动化 。得益于 Epsilon Xline 的无缝集成功能，可享受 R2R 的连续生产，适用于各种薄膜和涂层应用。
- 简单且安全 。与手持式或传统仪器不同，Epsilon Xline 完全安全且易于使用，并提供高度准确的分析数据。
- 毕生经验 。Epsilon Xline 借鉴 Malvern Panalytical 在元素分析领域长达 70 多年的 宝贵经验，与我们的行业合作伙伴合作开发，旨在满足其当前的需求，同时也能共同展望行业的未来。
- 最大产量 。通过实时监测和无中断实现具有成本竞争力的生产，为您提供所需的直接洞察力和控制力，助力您的运营发挥最大效益。
- 最佳材料效率 。消除不一致，避免浪费贵重材料，并使用我们的行业标准解决方案确保产出高质量产品。
- 经过验证的专利精度 。Epsilon Xline 由客户开发和测试，采用获得专利的高度校准技术，可确保稳定的分析，以获得准确的结果。
经过验证的技术
工艺中的元素分析
X 射线荧光 (XRF) 是一种无损元素分析技术，可在催化膜涂层过程中进行在线监测，无需采集样品，不会造成化学或物理变化。
由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。
高度可重复、准确测量且维护需求低
Epsilon Xline 和我们的一系列 Epsilon 仪器采用经过验证的强大技术，该技术由最新的激发和探测技术提供支持。设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能，加上高灵敏度 SDD 探测器系统，这一切造就了 Epsilon Xline 的强大性能。这些创新共同产生了高度可重复和准确的结果，并且维护需求低。
规格
| 样品处理 | |
|---|---|
| 样品类型 | 涂覆生产线 |
| 涂层类型 | 连续、通道、补丁 |
| 线速连续涂覆 | 最大 30 米/分钟 |
| 线速修补涂层 | 最大 11 米/分钟 |
| X 射线管 | |
| 类型 | 金属陶瓷，侧窗式 |
| 阳极材料 | Ag |
| 射线管设置 | 由软件控制，适用电压 4 - 50 kV，最高 3 mA，最大射线管功率 15 W |
| 光管滤光片 | 六个，可通过软件选择（Cu 300 µm、Cu 500 µm、Al 50 µm、Al 200 µm、Ti 7 µm、Ag 100 µm） |
| 窗口厚度 | 50 µm (Be) |
| 探测器 | |
| 类型 | 高分辨率硅漂移探测器 SDD10 |
| 窗口 | 8 µm (Be) |
| 分辨率 | < 145 eV @ 5.9 keV/1000 cps
通常为 135 eV @ 5.9 keV/1000 cps |
| 安全标准 | |
| 辐射 | 距离外表面 10 cm 处时 < 1 µSv/h |
内置连接
通过内置 OPC 连接将 Epsilon Xline 无缝集成到您的生产线中。随附的专用软件包使您可以轻松针对不同的材料和测量模式设置 Epsilon Xline。通过直接在仪器中输入命令或通过远程控制台输入命令，易于使用的界面将显示完整追踪数据的概览。
支持
我们随时为您提供帮助。
在 Malvern Panalytical，您不仅投资于仪器，还投资于多年的高质量客户服务和终身设备支持。我们的服务工程师和全球客户支持网络始终待命，提供一系列专家建议和支持，因此无论何时需要，请随时联系我们！
