Want to know more about Certified Reference Materials (CRMs) to calibrate XRF for battery element composition analysis?. Read this application note

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Zetium 系列X射线荧光光谱仪

元素分析

X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。

Zetium 包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。  

Zetium 配备了马尔文帕纳科最新版本的 SuperQ 软件(包括 Virtual Analyst),可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块,例如无标分析地质痕量元素润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 

针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版:水泥矿物金属石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本:Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案;从连接样品制备装置的简单接口,到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。

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特点

增强的分析性能

  • 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度
  • 一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能
  • 用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器
  • 用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析

出色的用户体验

  • Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件
  • 整套应用程序设置模块和软件解决方案
  • 使用 Omnian 执行无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析
  • 多元素微小区域分析
  • 可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm

显著提升样品处理量

  • SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%
  • 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度
  • Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量
  • 连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间
  • 高容量进样器台(最多 209 位)可满足高处理量应用需求
  • 进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入

可靠性

  • 除尘设备可尽量减少污染,并能够大大提升仪器的正常运行时间
  • 用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层
  • 样品类型识别(固体和液体)
  • 条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入

 仪器的拥有成本低

  • 节省空间的紧凑型设计 
  • 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗
  • 便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间
  • 专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重
  • 可节省成本的成套解决方案

用于特定行业的定制解决方案

Zetium XRF 光谱仪行业版附带了专用的专业模板以及适合特定行业的硬件和软件配置。 这些行业版本的设计能够实现快速试运行和校准,它们配备了专有的、高质量的且可追踪的应用设置模块,其中包含了设置标准和样品制备说明。 还包含了用于传统行业应用并符合国际规范的定制应用模块。 采用了此方法的行业包括水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。 顶级版配置可在各行业内满足严苛的要求。

基本创新

连续开发、不断改进的客户体验

将 SumXcore 技术(WDXRF与EDXRF 的集成)所带来的符合科学原理的优势驱动型创新融合到 Zetium 平台中,带来更高灵活性、高性能和多功能性。

基本情报

先进的分析硬件需要先进的分析软件

我们的 SuperQ 软件带来了新的技术组合和分析功能。 以 Virtual Analyst 为例,它优化了用户在设置和操作系统方面的体验。

基本支持

无论在何处,都能获得信息透明且可靠的支持

从服务到专业知识,从培训到实验室分析,可为用户提供全方位支持。 通过遍布全球的资深工程师网络,马尔文帕纳科随时准备好帮助您满足分析需求。 

基本技术 

60 年的经验和传承 - 完美的起点

Zetium 是 WDXRF 光谱仪(包括 Axios、MagiX 和 PW2400)中的新一代产品。 传承下来的成熟技术经过优化和发展,为 Zetium 平台打下了坚实的基础。

持续发展,提升客户体验

技术指标

Industry editions
Ultimate 版
Metals 版
Petro 版
Polymers 版
Mineral 版
Cement 版
Calibration standards

根据版本的不同,兼容且相关的校准标准包括:

镍铁钴
拉斯
铜基
阿德波尔
托塞尔
有害物质指令WEEE
燃料和油中的硫 (ASTM D2622)
润滑油合规性 (ASTM D6443)

X-ray tubes

根据版本的不同,兼容和相关的 X 射线管包括:SST-R Rh、SST R-max、X 射线管

软件

根据版本,兼容和相关软件包括:SuperQ、Smart Manager(可选)

附件

样品制备

硼酸助熔剂和化学品

在 XRF、ICP 和 AA 分析中熔化样品的首选

作为一站式熔融解决方案提供商和硼酸盐助熔剂生产领域的全球佼佼者,Claisse 研发出易于使用且确保不会产生污染的高质量化学品。

我们的硼酸锂助熔剂为均质熔片,提供两种纯度等级(99.98% 以上的纯净级和 99.995% 以上的超纯级),并可按需提供不沾剂。

使用 Claisse 硼酸锂助熔剂:

  • 避免结晶
  • 减少玻璃粘附在铂金器皿上的情况
  • 避免破裂

为了让您的分析操作更轻松,请试试我们预称重或定制的硼酸盐助熔剂

熔融监测

快速、无差错地主动监测您的熔融仪器

XRF 实验室必须确保其分析结果的质量,并通过定期使用质控样品来确保数据的准确性和精确度。

获取错误的分析结果可能会影响制造和商业方面的决策,从而造成非常昂贵的成本。 此外,在彻底识别并消除造成结果波动的来源之前,Fusion-XRF 流程会保持脱机状态。 如果发现分析结果超出预定标准,则必须采取计划的措施。 由于分析结果可能会受到大量因素的影响,因此故障排除步骤通常会既昂贵又耗时。

Claisse LeNeo

Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片,以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。

Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片,以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。 这是一款单熔位电子仪器。

FORJ

高精度元素分析强有力的保证

FORJ™ 熔样机拥有高水平的稳健性,旨在提供出色的生产力和可靠的结果,它是改变熔融法样品制备的变革者。不管您是采用 X 射线荧光法 (XRF)、电感耦合等离子体法 (ICP) 还是原子吸收法 (AA) 进行分析,FORJ 都是您的分析过程中的一个关键环节。

  • 机器稳健可靠
  • 高处理量
  • 可重复的结果
  • 机器易于集成、安装和使用

模具和坩埚

铂金模具和坩埚

实验室器具在通过熔融制备样品时至关重要。马尔文帕纳科提供的模具和坩埚由 95% 的铂金和 5% 的黄金制成。有多种尺寸和厚度可供选择,以帮助您获得最佳的分析结果。

我们还提供用于过氧化物熔融的镍和锆坩埚。

马尔文帕纳科熔融仪器专门开发用于和专门设计的铂金器具配合使用。我们所有的铂金配件都经过测试和设计,为您提供:

  • 最佳混合性能。
  • 更长的使用寿命。
  • 更高的玻璃盘制备成功率。
  • 与我们的熔融仪器完美兼容。

Precious Metal Scrap Policy

Selling your precious metal scrap can have a significant impact on your profits. Invest your scrap platinumware instead of collecting it in your drawers!

软件

SuperQ

XRF 分析软件包

SuperQ 是一款先进的综合性软件包,无论初学者还是经验丰富的用户,都可以充分利用 Zetium 光谱仪。SuperQ 以拥有 20 多年丰富经验的平台为基础,是操作 Zetium 并发挥其最佳功能的关键所在。它可以轻松地使用和扩展,并且支持大多数国际语言。

无论您处于哪个行业,SuperQ 都能为您提供高质量的数据。

Stratos

测定涂层和多层的成分和厚度

Stratos 软件模块采用的独特算法可通过执行的测量来实现多层膜材料的化学成分和厚度测定。该软件为涂层、表层和多层结构的分析提供了一种快速、简单且无损的方法。Virtual Analyst 针对复杂的堆栈,在测量程序设置期间提供了丰富的信息。 


Stratos 可用于 Epsilon 4 EDXRF 和 Zetium XRF 光谱仪,无论是什么样品类型或基体,均可提供快速可靠的分析结果。

Pro-Trace

可靠的痕量元素分析

在环境、地质和工业应用中,可靠的痕量元素分析的重要性正变得越来越高,尤其是考虑到愈加严格的全球控制污染法规要求。

精确的净强度是优质痕量元素分析的基础。此外,精确的基体校正也至关重要,特别是在未提供所有主要元素数据的情况下。

Pro-Trace 适合用于计算痕量元素分析中的净强度以及在总基体未知时进行准确的基体校正。

Oil-Trace

精确的痕量元素分析

Oil-Trace 是一套软件包,其中包含了一套允许用户使用 WDXRFEDXRF 对液体执行准确和可靠的元素分析的标准。Oil-Trace 可在分析液体时解算两个问题:

1) 存在未知 CHON 元素混合物时执行适当的基体校正

2) 在由于所分析样品的体积出现偏差而导致错误时进行校正

通过有效跟踪这些问题,Oil-Trace 非常有利于执行石油分析。

增强的数据安全性

保护您的数据并满足创作者要求。

Enhanced Data Security (EDS) 模块是一个软件选件,可以增强 Zetium XRF 光谱仪(通过使用 SuperQ 软件)和 Epsilon XRF 光谱仪用户对结果的信心。EDS 提供了高级用户管理、操作日志、数据保护和应用程序状态分配等功能,可以帮助您强化审计轨迹、尽量降低出错风险,并确保 XRF 仪器如常工作。

Omnian

对所有样品类型进行无标分析

当不存在专用方法或同类型标准样品时,Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 作为引领潮流的无标分析软件包,Omnian 融合了先进的软件和超越技术限制的设置样品。 Omnian 可用于 Epsilon 1、Epsilon 4 和 Zetium 光谱仪,无论是什么样品类型或基体,均可提供快速可靠的分析结果。

服务

XRF testing services

Malvern Panalytical offers a range of analytical services, ranging from elemental, structural and morphological analysis to validation and qualification services.

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XRF testing services

智能管家

智能管理器是您值得信赖的仪器健康和使用管理守护者,确保您的分析始终按时、无与伦比的准确性、可靠性和效率。

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智能管家

校准标准

熔融硼酸盐盘

校准变得简单!

用于 XRF 应用校准和监控的定制熔融硼酸盐盘。我们的熔融硼酸盐盘采用 CRM 或定制的合成氧化物制成,可根据您的分析需求进行定制。

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WROXI

准确的多种矿物氧化物分析

WROXI CRM 是一种合成的高质量认证标准物质套件,涵盖多种氧化物材料,例如矿石、岩石和地质材料。

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ADPOL

只需几分钟即可获得聚合物、化合物和塑料的准确且值得信赖的 XRF 元素组成。

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Cu-base

铜金属的精确元素分析 

Cu-base-FP 软件包包括适用的校准标准,通过使用基本参数 (FP) 模型涵盖了各种铜合金,从而可以对铜基材料进行非常准确的分析。

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LAS

使用 Malvern Panalytical XRF 光谱仪进行低合金钢分析。

用于顺序和同步 XRF 光谱仪 Zetium 和 Axios FAST 的低合金钢 (LAS) 包基于超过 90 个 CRM,涵盖多达 21 种元素,以及 4 个用于漂移和样品制备校正的监测样品。

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NiFeCo

非常适合分析高温钢和超级合金。

Malvern Panalytical 的基本参数 (FP) 矩阵校正算法用于提供单一应用程序,可对多达 21 种元素进行广泛的合金分析。

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RoHS

RoHS 限制材料的准确元素分析。

RoHS 校准模块可帮助制造商和研究实验室遵守 RoHS 2 法规的要求。使用 RoHS 校准标准进行准确的元素分析可以节省您的资金并支持遵守 REACH 等国际法规。

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TOXEL

通过 XRF 准确分析聚合物和塑料中的有毒元素

TOXEL 模块可以轻松、准确地对聚烯烃(包括多种 PP 和 PE)中的有毒元素进行元素分析。

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系统增强软件包

Zetium 平台的模块化设计允许对配置进行自定义以满足严苛的要求。

  • 以任务为导向的性能增强
  • 高样品处理量 – 提升进样器容量,降低仪器进样时间
  • 针对有粉尘的样品和液体溢漏提供保护
  • 利用条形码阅读器实现无差错的样品进样
  • 可变样品类型处理,包括微小区域分析
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Smart Manager

释放您数据的潜力

迄今为止,仪器数据常常被困在手工记录、电子表格或本地服务器中。通过将 Zetium 连接至我们的 Smart Manager,并在云端持续分析仪器数据,您可以充分释放其潜力。这只是 Malvern Panalytical Connected World 数字解决方案的一部分。

SumXcore

Zetium 平台包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使其拥有更高分析能力、速度和任务灵活性。

结合 WD/ED XRF 的优点

  • 通过同步 SumXcore 测量实现最高的任务灵活性,并且提高性能
  • 可将测量时间大幅缩短多达 50%,或者提高精度
  • 高分辨率 SDD 探测器以及可变信号衰减确保实现灵活性
  • 从钠到镅的元素分析,涵盖从 ppm 到 100% 的浓度范围
  • 跟踪有可能影响工艺元素分析的预期外元素,并且不会延长测量时间
  • 利用每次测量的两个独立结果来增强您的 QA/QC 程序,并提高对质量的信心

带 Virtual Analyst 的 SuperQ 6

Virtual Analyst 可从许多来源(例如标准成分、实际测量值和用户数据目标)收集信息,以用于计算系统响应、对其进行设置并完善方法。

  • 发挥 Zetium 平台的强大功能
  • 以任务为导向的流程让工作变得简单而直观
  • 先进的基体校正优化确保提高从金属到聚合物的数据准确性 
  • Virtual Analyst – 充分利用数十年的专家技术知识。

利用映射的微小区域分析

利用元素分布映射进行微小区域分析是一种理想的工具,适用于材料研究和生产流程故障排除。 不再受研究设施的限制,您现在可以在任何需要的地方使用此方法。

  • 特别适用于材料研究和生产流程故障排除
  • 分析时间更短
  • 紧密耦合光路确保高灵敏度
  • 使用 ED core(能谱核)在每个区域执行快速、同步的多元素分析
  • 500 µm 区域大小 (FWHM),100 µm 步长
  • 定量、定性和无标 Omnian 分析
  • 简单的样品制备

用户手册

软件下载

06 March 2025

1.7.25065

Smart Instruments: Cloud Service Software update

1.7.25065
适用于最苛刻应用的智能 XRF 光谱仪。

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