Crystal Orientation 系列晶向定位产品

快速准确地对晶圆、胚晶和任何其他单晶样品进行定向

我们的晶体取向解决方案在设计时考虑到了胚晶、晶棒、晶锭和晶圆的应用。我们的产品可在一系列环境中提供简单、超快的晶体取向。 

从全自动在线分析到快速质量检查，我们能满足您的任何需求。

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支持的产品

DDCOM

采用紧凑封装，以超快速度测量底面的晶体取向

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
DDCOM

XRD-OEM

全自动在线取向和处理晶棒、胚晶和晶锭

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
XRD-OEM

Wafer XRD 200

快速、精确、装备齐全的晶圆取向和拣选解决方案

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 200

Wafer XRD 300

您的可集成晶圆取向解决方案

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 300

SDCOM

采用紧凑封装，实现出众快速顶面测量晶体取向

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
SDCOM

Omega/Theta

用于超快晶体取向的全自动立式三轴 X 射线衍射仪

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
Omega/Theta